Thuis
Producten
Verpakkingsvorm op paneelniveau
Verpakkingschip op panellevel
Verpakkingsproductstructuur op paneelniveau
Verpakkingen op het niveau van de panelen
TGV door glas
Verpakkingssimulatie-experimenten
Video's
Over ons
Over ons
Fabrieksreis
Kwaliteitscontrole
Neem contact met ons op
Dutch
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Vraag een offerte aan
Zoek
Thuis
China Guangdong Fozhixin Microelectronics Technology Research Co., Ltd. Sitemap
bedrijf
Bedrijfsprofiel
Fabrieksreis
geschiedenis van het bedrijf
Kwaliteitscontrole
bedrijfsdiensten
Contacteer ons
Producten
Verpakkingsvorm op paneelniveau
Panelniveau Verpakking Panelniveau SiP Gebruikt in verschillende industrieën
0.5 mm Dikte Panelniveau Verpakking Panelniveau BGA/CSP Voor stroomadapter
310*320mm Paneldomein Paneldimensionaliteit QFN Lage elektrische weerstand
Verpakkingschip op panellevel
310*320mm Fan-Out Panel Level Packaging (FOPLP) Resistance Chip ((Silicon)
LED-chip Silicium LED Constant Current Driver Chip 0,4 mm * 0,555 mm * 0,20 mm
310*320mm Panelgrootte Thin MOS Chip Silicon Lage stroomverbruik
310*320mm Fan-Out Panel Level Packaging (FOPLP) IC Chip ((Silicium)
Verpakkingsproductstructuur op paneelniveau
FOPLP-verpakkingen (Fan-Out Panel Level Packaging) Productstructuur Embedded Package
Verpakkingsoppervlak van het paneel Gezicht naar beneden-EWLB Hoge warmteafvoer Hoge betrouwbaarheid
FOPLP-verpakking (Fan-Out Panel Level Packaging) - productstructuur ((face up)) - draadbundel
FOPLP-verpakkingen (Fan-Out Panel Level Packaging, FOPLP) - productstructuur ((face up)) - waferbump
Verpakkingen op het niveau van de panelen
310*320 mm Fan-Out Panel Level Packaging (FOPLP) GaN-product
310*320mm Fan-Out Panel Level Packaging (FOPLP) Power Package
310*320mm Fan-Out Panel Level Packaging (FOPLP) MEMS-microfoonpakket
310*320mm Fan-Out Panel Level Packaging (FOPLP) Radiofrequentie (RF)
TGV door glas
Robuust glas Subatrate betrouwbaarheid-druppel test Geen glazen scheuren gebeuren
Betrouwbare prestatieglassubtraat betrouwbaarheidstest-MSL3/HAST/TCT
Hoge efficiëntie hoewel gat/blind gat op glas 35um Voor GPU/CPU/AI chips
hoge beeldverhouding TGV Foundary Capabilities voor halfgeleiderverpakkingen
Verpakkingssimulatie-experimenten
Verpakking geschikt voor verschillende verpakkingssimulatie-experimenten
1
2
>
>>